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Similarity search on wafer bin map through nonparametric and hierarchical clustering = 비모수적 및 계층적 군집화를 통한 웨이퍼 빈 맵의 유사성 순위 검색 방법link Lee, Jeahoon; Moon, Il-chul; et al, 한국과학기술원, 2022 |
데이터 증강 기법 및 변분 오토인코더를 활용한 낸드 플래시 메모리 유지 신뢰성 결함 예측 = Prediction of retention reliability fault in nand flash through data augmentation technique and variational autoencoderlink 사공현; 문일철; et al, 한국과학기술원, 2022 |
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