Showing results 1 to 2 of 2
BOM 분석을 통한 통합 BOM 관리 시스템 설계 = A study of a reference model for the integrated bills of matetials(BOM) management system through BOM classificationlink 이재현; Lee, Jae-Hyun; et al, 한국과학기술원, 2001 |
Semi-supervised learning for simultaneous location detection and classification of mixed-type defect patterns in wafer bin maps = 웨이퍼 혼합 결함 패턴의 위치 탐지와 분류를 위한 준지도 학습link Lee, Jaehyun; Kim, Heeyoung; et al, 한국과학기술원, 2022 |
Discover