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1
(A) study on performance and stability of polysilicon thin-film transistors using ECR plasma thermal oxide as gate insulator = ECR 플라즈마 열 산화막을 게이트 절연막으로 사용하는 다결정실리콘 박막 트랜지스터의 성능및 안정성에 관한 연구link

Lee, Jung-Yeal; 이정렬; et al, 한국과학기술원, 1995

2
(A) study on performance, short-channel effects, and stability of polycrystalline silicon thin-film transistors using ECR $N_2O$-plasma gate oxide = 얇은 ECR $N_2O$-플라즈마 게이트 산화막을 사용한 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 성능, 단채널 효과 및 안정성에 관한 연구link

Lee, Jin-Woo; 이진우; et al, 한국과학기술원, 1999

3
Modeling of anomalous charge-pumping current in polycrystalline silicon thin film transistors = 다결정 실리콘 박막 트랜지스터에서의 전하 펌프 전류 모델링link

Lee, Ga-Won; 이가원; et al, 한국과학기술원, 1999

4
New self-aligned offset polysilicon thin film transistors = 자기 정렬 오프셋 구조를 가지는 새로운 다결정 실리콘 박막 트랜지스터link

Han, Jung-In; 한정인; et al, 한국과학기술원, 1999

5
Polysilicon thin film transistor EEPROM cell with thin $N_2O$ ECR plasma oxide = 얇은 $N_2O$ 플라즈마 산화막을 이용한 다결정 박막트랜지스터 EEPROM 셀link

Hur, Sung-Hoi; 허성회; et al, 한국과학기술원, 1998

6
Polysilicon thin film transistor EEPROMs using ECR $N_2O$-plasma thin oxide as tunnel oxide and interpoly dielectric = 얇은 ECR $N_2O$-플라즈마 산화막을 tunnel oxide 및 interpoly dielectric으로 사용한 다결정 실리콘 박막 트랜지스터 EEPROMs에 대한 연구link

Lee, Nae-In; 이내인; et al, 한국과학기술원, 1999

7
Reliability study and effect of NH3 annealing on the electrical characteristics of polysilicon thin film transistors = 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 신뢰성 연구 및 암모니아 열처리가 전기적 특성에 미치는 영향link

Choi, Duk-Sung; 최득성; et al, 한국과학기술원, 1995

8
(The) modeling of electrical characteristics for polysilicon thin film transistors = 다결정 박막 트랜지스터의 전기적 특성 모델링link

Yang, Gi-Young; 양기영; et al, 한국과학기술원, 1999

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