구조물 변위 측정 시스템 및 방법Structure Deformation Measurement System and method
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 명현 | ko |
| dc.date.accessioned | 2017-12-21T00:41:17Z | - |
| dc.date.available | 2017-12-21T00:41:17Z | - |
| dc.date.issued | 2012-10-09 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/236812 | - |
| dc.description.abstract | 구조물 변위 측정 시스템 및 방법이 제공된다. 본 구조물 변위 측정 시스템은, 제1 레이저 조사기에서 조사된 레이저 빔이 제2 스크린 내부에 조사되도록 제1 레이저 조사기의 조사각을 제어하고, 제2 레이저 조사기에서 조사된 레이저 빔이 제1 스크린 내부에 조사되도록 제2 레이저 조사기의 조사각을 제어하고, 제1 스크린을 촬영하여 생성한 제1 이미지와 제2 스크린을 촬영하여 생성한 제2 이미지를 이용하여 제2 구조물에 대한 제1 구조물의 상대적인 변위를 추정한다. 이에 의해, 구조물 변위 측정을 위해 조사하는 레이저들의 방향을 제어하여 포인트 위치들을 스크린 내부로 조정할 수 있게 되어, 어떠한 외부 상황에서도 구조물의 변위 측정이 항상 가능해진다. | - |
| dc.title | 구조물 변위 측정 시스템 및 방법 | - |
| dc.title.alternative | Structure Deformation Measurement System and method | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 명현 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2010-0104837 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1191458-0000 | - |
| dc.date.application | 2010-10-26 | - |
| dc.date.registration | 2012-10-09 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
- Appears in Collection
- CE-Patent(특허)
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.