왜곡 측정 방법DISTORTION MEASURING METHOD
본 발명은 왜곡 측정 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 왜곡 측정 방법은, 현재 영상 블록의 고주파 성분 및 저주파 성분을 추정하여 움직임을 추정하기 위하여 사용되는 현재 영상 블록의 왜곡 측정 방법에 있어서, (a) 현재 영상 블록의 픽셀 값에 현재 영상 블록의 레퍼런스 블록들의 픽셀 값과 현재 영상 블록과 레퍼런스 블록들의 평균 값의 차이 값을 뺀 값을 이용하여, 현재 영상 블록의 고주파 성분의 왜곡값의 합을 계산하는 단계, (b) 현재 영상 블록과 현재 영상 블록의 레퍼런스 블록들의 픽셀 값을 이용하여, 현재 영상 블록의 저주파 성분의 제1 왜곡값의 합을 계산하는 단계, (c) 현재 영상 블록의 저주파 성분의 왜곡값의 합에 현재 영상 블록의 저주파 성분 추정의 효율값을 곱하여 현재 영상 블록의 저주파 성분의 제2 왜곡값을 계산하는 단계, (d) 현재 영상 블록의 고주파 성분의 왜곡값의 합과 현재 영상 블록의 저주파 성분의 제2 왜곡값을 합산하는 단계를 포함한다.
- Assignee
- 한국과학기술원
- Country
- KO (South Korea)
- Issue Date
- 2011-09-07
- Application Date
- 2009-10-06
- Application Number
- 10-2009-0094696
- Registration Date
- 2011-09-07
- Registration Number
- 10-1064883-0000
- Appears in Collection
- EE-Patent(특허)
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