미소구조물의 변형률 측정방법Method measurement of strain late for micro structure
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 이순복 | ko |
| dc.date.accessioned | 2017-12-20T11:56:16Z | - |
| dc.date.available | 2017-12-20T11:56:16Z | - |
| dc.date.issued | 2005-07-22 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/235046 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은 패턴인식을 이용하여 기계적 또는 열적 하중으로 인한 재료의 변형률을 측정하는 방법에 관한 것으로서, 하나의 대물렌즈에 의해 측정대상물상의 두 지점에 대한 상을 얻고, 얻어진 상을 빔스플릿터에서 분리하고, 각각의 분리된 상을 줌렌즈를 통과시켜 카메라로 촬영하여 영상을 획득하고, 획득된 영상에서 패턴을 인식하며, 인식된 패턴을 추적하여 각 위치에서의 변위를 계산하는 것에 의해 변형률을 측정하는 방법을 제공하여 시편을 비접촉식으로 측정할 수 있게되고, 줌렌즈를 배치하여 해상도를 향상시킬 수 있고, 측정대상물의 전처리공정이 필요치 않게 되는 것은 물론 그로 인해 처리속도를 빠르게 할 수 있고 나아가서 실시간 변형률 측정이 가능한 효과를 갖는 것이다. | - |
| dc.title | 미소구조물의 변형률 측정방법 | - |
| dc.title.alternative | Method measurement of strain late for micro structure | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 이순복 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2003-0002499 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-0505019-0000 | - |
| dc.date.application | 2003-01-14 | - |
| dc.date.registration | 2005-07-22 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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