배경전류억제, 불균일 보상, 불량 화소 복원 등의 기능을내장한 스마트 신호취득회로Smart readout circuit including backgroundsuppression, non-uniformity compensation, and deadpixel correction

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dc.contributor.author이희철ko
dc.date.accessioned2017-12-20T11:49:00Z-
dc.date.available2017-12-20T11:49:00Z-
dc.date.issued2003-12-05-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/234771-
dc.description.abstract본 발명은 배경전류억제, 불균일 보상, 불량 화소 복원 등의 기능을 내장한 스마트 신호취득 회로에 관한 것이다.일반적으로, 적외선 검출기의 잡음 특성을 개선하고자 TDI(time delay and integration) 회로가 사용된다. 그러나, TDI 회로는 잡음 특성이 개선되는 반면, 적분 커패시터의 크기가 커지고 불량 화소의 발생 확률이 증가하는 문제점을 가진다. 또한, 기존의 신호취득 회로의 경우 전체 적외선 감지 소자 어레이에 일정한 크기의 전류를 빼줌으로써 배경전류를 제거해 주는 방식을 사용하나 각 셀간의 배경전류 불균일이 큰 문제가 되었다.이에, 본 발명에서는 1) 각각의 셀에 전류복사 셀이 존재하여 적외선 감지소자의 배경 전류를 저장한 후, 보상해 줌으로써 배경전류 억제와 동시에 불균일 보상까지 수행한다. 2) 전류 복사 셀에 저장된 값은 접합 누설 전류에 의해 오류가 발생하므로 이를 해결하기 위해 추가로 ACD, DAC, 메모리 등을 내장하였다. 3) 전류복사 셀에 저장된 값은 디지털화 되어 메모리에 저장된 후, 주기적으로 재 설정해 주는 동작을 취한다. 이때 메모리에 저장된 값을 이용하며, 불량 화소가 발생한 경우 이를 제거해 줄 수 있게 된다.따라서, 본 발명에 의한 스마트 신호취득 회로는 HgCdTe 적외선 검출기를 위한 신호취득 회로 내에 불균일 보상 및 불량화소 복원의 기능을 삽입한 것으로 TDI의 문제점을 해결할 수 있으며, 적외선 검출기의 제작 수율을 향상시킬 수 있다.HgCdTe, 적외선 검출기, TDI, 신호취득 회로, 배경전류억제, 불량화소복원-
dc.title배경전류억제, 불균일 보상, 불량 화소 복원 등의 기능을내장한 스마트 신호취득회로-
dc.title.alternativeSmart readout circuit including backgroundsuppression, non-uniformity compensation, and deadpixel correction-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor이희철-
dc.contributor.assignee한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2002-0015677-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-0411733-0000-
dc.date.application2002-03-22-
dc.date.registration2003-12-05-
dc.publisher.countryKO-
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EE-Patent(특허)
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