DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 양동열 | ko |
dc.contributor.author | 임태우 | ko |
dc.contributor.author | 손용 | ko |
dc.date.accessioned | 2017-12-20T11:35:59Z | - |
dc.date.available | 2017-12-20T11:35:59Z | - |
dc.date.issued | 2010-11-11 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/234329 | - |
dc.description.abstract | 이 발명은 미세 압축시험기를 이용하여 인장시험할 수 있도록 시편의 상하면을 각각 가공하여 시편의 내부에 단일 인장시험부를 갖는 인장시편으로서, 단일 인장시험부가 미세 압축시험기의 팁이 접촉하는 인장하중 전달부의 무게 중심에 위치하며, 지지부에 연결되어 인장력을 받을 수 있도록 설계된 것을 특징으로 한다. 이 발명은 단일 인장시험부를 갖도록 구성함에 따라, 나노급 기계적 물성을 측정하기 위한 미세 압축시험기용 인장시편의 장점을 가지면서 종래의 다수의 인장시험부를 가지는 미세 압축시험기용 인장시편의 문제점을 해결할 수 있는 효과가 있다. 즉, 다수의 인장시험부에서의 불균일 거동으로 인한 나노/마이크로 물성 오차에 대한 문제점과, 단일 시편의 거동을 관찰하기 힘든 종래의 미세 압축시험기용 인장시편의 어려움을 해결할 수 있는 효과가 있다. | - |
dc.title | 단일 인장시험부를 가지는 미세 압축시험기용 인장시편 및그 제조방법(Indentation-driven tensile test specimen with single test section and manufacturing method thereof) | - |
dc.title.alternative | Indentation-driven tensile test specimen with single test section and manufacturing method thereof | - |
dc.type | Patent | - |
dc.type.rims | PAT | - |
dc.contributor.localauthor | 양동열 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 임태우 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 손용 | - |
dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2008-0070537 | - |
dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-0994933-0000 | - |
dc.date.application | 2008-07-21 | - |
dc.date.registration | 2010-11-11 | - |
dc.publisher.country | KO | - |
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