본 발명은 앨리어스 샘플링을 이용한 아이씨티(ICT) 및 이를 이용한 교류 측정 방법에 관한 것이다. 본 발명에 의한 아이씨티는, 측정하고자하는 인쇄회로 기판상의 임의의 소자를 선택하는 스위치매트릭스부, 스위치매트릭스부와 연결되어 직류 또는 교류의 전류 또는 전압을 측정하는 측정부, 스위치 매트릭스부의 선별 구동이나 측정부의 구동, 측정, 및 계산 등을 제어하는 제어부, 및 제어부의 제어 순서 및 측정 결과를 저장하는 메모리부를 구비하는 아이씨티에 있어서, 제어부의 제어 신호에 의해 측정부는 교류 정전압원 또는 교류 정전류원을 측정 소자에 인가하여 측정된 소자의 교류 신호를 앨리어스 샘플링 및 시간 압축에 의한 A/D 변환을 수행하며, 제어부는 시간 압축된 교류 신호의 위상 계산과 크기 계산을 수행한 후 측정하고자 하는 소자의 임피던스 계산을 수행하는 것을 특징으로 한다. 아이씨티(ICT: In-Circuit Tester), 교류 측정, A/D 변환, 앨리어스 샘플링, 시간 압축률, 위상 계산 알고리즘