공통 광 경로 3차원 회절 광 현미경 및 그의 시편 변형성 측정 방법COMMON-PATH 3-DIMENSION DIFFRACTION LIGHT MICROSCOPY AND METHOD FOR MEASURING DEFORMABILTY OF SAMPLE
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 박용근 | ko |
| dc.contributor.author | 김영찬 | ko |
| dc.date.accessioned | 2017-12-20T09:13:26Z | - |
| dc.date.available | 2017-12-20T09:13:26Z | - |
| dc.date.issued | 2015-10-21 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/232224 | - |
| dc.description.abstract | 3차원 굴절률 분포와 시편의 막 떨림을 모두 분석할 수 있는 공통 광 경로 3차원 회절 광 현미경 및 그의 시편 변형성 측정 방법이 개시된다. 공통 광 경로 3차원 회절 광 현미경은, 광선(beam)을 방사하는 광원, 광선이 시편(sample)에 입사하는 입사각을 변경하고, 입사각이 변경됨에 따라 달라진 광축을 보정하는 렌즈부, 시편을 투과한 광선들 간의 간섭 무늬를 측정하는 카메라부, 및 간섭 무늬에 기초하여 시편의 3차원 굴절률 분포를 계산하고, 시편의 막 떨림을 분석하는 분석부를 포함할 수 있다. | - |
| dc.title | 공통 광 경로 3차원 회절 광 현미경 및 그의 시편 변형성 측정 방법 | - |
| dc.title.alternative | COMMON-PATH 3-DIMENSION DIFFRACTION LIGHT MICROSCOPY AND METHOD FOR MEASURING DEFORMABILTY OF SAMPLE | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 박용근 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김영찬 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2014-0078107 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1563810-0000 | - |
| dc.date.application | 2014-06-25 | - |
| dc.date.registration | 2015-10-21 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
- Appears in Collection
- PH-Patent(특허)
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.