표적물질 검출용 헤어핀형 프로브 및 이를 이용한 표적물질 검출방법Hairpin-type probe for detecting target material and method for detecting target material using the same

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dc.contributor.author심봉주ko
dc.contributor.author박현규ko
dc.contributor.author원병연ko
dc.contributor.author백송이ko
dc.contributor.author김지태ko
dc.contributor.author조성문ko
dc.date.accessioned2017-12-20T07:33:04Z-
dc.date.available2017-12-20T07:33:04Z-
dc.date.issued2014-10-17-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/231548-
dc.description.abstract본 발명은 표적물질 검출용 헤어핀형 프로브(probe) 및 이를 이용한 표적물질 검출방법에 대한 것으로, 특히 표적물질 인식부위를 포함하는 루프(loop)와, 전기화학적 신호물질이 결합된 압타머(aptamer)를 포함하는 스템(stem)으로 이루어진 표적물질 검출용 헤어핀형 프로브를 특징으로 하고, 표적물질과 혼성화시에 헤어핀 구조가 깨짐으로써 상기 신호물질이 압타머로부터 분리되어 전극까지 자유롭게 이동 가능하며, 이에 따라 발생하는 전기화학적 신호의 변화에 의해 표적물질의 양을 실시간으로 정확하게 검출할 수 있는 효과가 있다.-
dc.title표적물질 검출용 헤어핀형 프로브 및 이를 이용한 표적물질 검출방법-
dc.title.alternativeHairpin-type probe for detecting target material and method for detecting target material using the same-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor박현규-
dc.contributor.nonIdAuthor심봉주-
dc.contributor.nonIdAuthor원병연-
dc.contributor.nonIdAuthor백송이-
dc.contributor.nonIdAuthor김지태-
dc.contributor.nonIdAuthor조성문-
dc.contributor.assignee한국과학기술원, 엘지전자 주식회사-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2012-0091222-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-1454511-0000-
dc.date.application2012-08-21-
dc.date.registration2014-10-17-
dc.publisher.countryKO-
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CBE-Patent(특허)
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