DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 양민양 | ko |
dc.contributor.author | 김동규 | ko |
dc.contributor.author | 이창호 | ko |
dc.date.accessioned | 2017-12-20T02:45:28Z | - |
dc.date.available | 2017-12-20T02:45:28Z | - |
dc.date.issued | 2016-05-11 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/230885 | - |
dc.description.abstract | 본 발명은 가공표면의 조도 데이터와 가공조건의 데이터를 융합하여 가공표면조도의 분석을 통한 가공 중 문제를 찾을 수 있는 가공표면의 품질 분석 방법에 관한 것으로, 본 발명에 따른 가공표면의 품질 분석 방법은, 피가공물의 표면조도를 측정하는 단계(S1); 상기 표면조도의 측정 길이(L)와 측정 데이터 수(ND)를 통해 데이터 사이의 거리(length per step)를 산출하는 단계(S2), 가공시의 공작기계의 이송 속도(㎜/sec)를 통해 측정 데이터 사이의 거리에 대한 실제 가공 시간(s-time)을 산출하는 단계(S3), 상기 단계 S3에서 산출된 측정 데이터 사이의 거리에 대한 실제 가공 시간(s-time)을 공작기계에서의 샘플링 주파수(s-frequency)로 변환하는 단계(S4), 상기 샘플링 주파수(s-frequency)를 이용하여 표면조도 데이터의 고속퓨리에변환(FFT; fast fourier transform) 분석을 수행하여 지배적인 주파수 영역을 검출하는 단계(S5); 그리고, 상기 검출된 주파수 영역을 공작기계의 가공중 여러가지 문제에 따른 지배적인 주파수 영역과 비교하여 공작기계의 문제를 분석하는 단계(S6)를 포함하는 것을 특징으로 한다. | - |
dc.title | 공작기계 가공품질 확인을 위한 가공표면의 품질 분석 방법 | - |
dc.title.alternative | Method of analysis the machined surface by machine tool | - |
dc.type | Patent | - |
dc.type.rims | PAT | - |
dc.contributor.localauthor | 양민양 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 김동규 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 이창호 | - |
dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2015-0052359 | - |
dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1621890-0000 | - |
dc.date.application | 2015-04-14 | - |
dc.date.registration | 2016-05-11 | - |
dc.publisher.country | KO | - |
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