프로브 카드 및 그 제조방법PROBE CARD AND METHOD MANUFACTURING THE SAME
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 이대길 | ko |
| dc.contributor.author | 김성수 | ko |
| dc.contributor.author | 김병철 | ko |
| dc.contributor.author | 박동창 | ko |
| dc.date.accessioned | 2017-12-20T01:16:31Z | - |
| dc.date.available | 2017-12-20T01:16:31Z | - |
| dc.date.issued | 2011-09-16 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/229423 | - |
| dc.description.abstract | 【과제】피검사체의 전극 패드에 일괄 접촉시켜 비주얼 테스트를 실시하기 위한 프로브 카드 및 그 제조 방법을 제공한다. 【해결 수단】피검사체의 전극 패드에 접촉하도록 탄성을 가지는 접점부가 절곡된 전도성 와이어로 이루어져 상기 접점부는 동일 방향으로 배열되고 단락 방지를 위해 서로 평행하게 배열되어 있는 복수의 프로브와 상기 프로브의 일단과 근접한 부분을 고정하는 제1 절연 블록과 상기 프로브의 타단과 근접한 부분을 고정하는 제2 절연 블록과 상기 프로브의 접점부가 돌출되도록, 상기 제 1 절연 블록과 제2 절연 블록을 각각 고정하는 마운팅 플레이트를 포함한다. | - |
| dc.title | 프로브 카드 및 그 제조방법 | - |
| dc.title.alternative | PROBE CARD AND METHOD MANUFACTURING THE SAME | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 이대길 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김성수 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김병철 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 박동창 | - |
| dc.contributor.assignee | KAIST | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 2009-092334 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 4825892 | - |
| dc.date.application | 2009-04-06 | - |
| dc.date.registration | 2011-09-16 | - |
| dc.publisher.country | JA | - |
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