물성 진단 장치 및 방법Apparatus and Method of diagnosing property of matter

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dc.contributor.author김정ko
dc.contributor.author안범모ko
dc.contributor.author김영진ko
dc.contributor.author이준희ko
dc.contributor.author김완두ko
dc.date.accessioned2017-12-20T00:55:03Z-
dc.date.available2017-12-20T00:55:03Z-
dc.date.issued2011-02-22-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/228918-
dc.description.abstract본 발명은 소정 조직의 물성을 측정하는 방법 및 장치에 관한 것이다. 상기 장치는 소정 물질에 자극을 가하기 위한 동력을 생성하는 구동기와 구동기의 일측에 구비되어 소정 물질에 자극을 가하고, 자극에 의해 발생하는 반력을 측정하기 위한 힘 측정 장치와 구동기를 조작하기 위한 다자유도 작동기를 포함할 수 있다. 또한, 상기 장치는 다자유도 작동기, 구동기 및 힘 측정 장치를 제어하고, 힘 측정 장치에서 측정한 반력을 이용하여 상기 소정 물질의 물성을 진단하는 제어부를 더 포함할 수 있다.-
dc.title물성 진단 장치 및 방법-
dc.title.alternativeApparatus and Method of diagnosing property of matter-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor김정-
dc.contributor.nonIdAuthor안범모-
dc.contributor.nonIdAuthor김영진-
dc.contributor.nonIdAuthor이준희-
dc.contributor.nonIdAuthor김완두-
dc.contributor.assignee한국과학기술원,한국기계연구원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2008-0060894-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-1018408-0000-
dc.date.application2008-06-26-
dc.date.registration2011-02-22-
dc.publisher.countryKO-
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ME-Patent(특허)
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