원자 힘 현미경과 텅스텐 히터 팁을 이용한 상변화메모리의 피로 측정 시스템 및 그 제어방법A Measuring System For PRAM Fatigue Using Atomic Force Microscpoe And Homemade W Heater Tip And Controlling Method Thereof
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 최시경 | ko |
| dc.contributor.author | 김현정 | ko |
| dc.date.accessioned | 2017-12-18T04:42:27Z | - |
| dc.date.available | 2017-12-18T04:42:27Z | - |
| dc.date.issued | 2009-03-05 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/228152 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은 상변화 메모리(Phase-change Random Access Memory, PRAM)의 on/off(set/reset) 반복 동작에 의한 칼코게나이드(chalcogenide)계 PRAM 물질의 피로측정과 원인을 자동 규명하고 제어하는 상변화 메모리의 피로(fatigue) 측정 시스템, 그 제어방법 및 제어 프로그램이 기록된 기록매체에 관한 것으로서, 반복 펄스를 발생하는 펄스 발생기(pulse generator)와, 자체 제작된 텅스텐 히터 팁을 구비하고, 상기 펄스를 입력받아 PRAM의 칼코게나이드계 게르마늄(Ge)-안티몬(Sb)-텔룰라이드(Te) 금속합금셀(GST cell)에 상변화를 일으키는 원자 힘 현미경(AFM)과, 상기 Ge2Sb2Te5(GST) 셀에서의 상변화에 따른 파라미터를 측정하는 매개변수 분석기(parameter analyzer)를 포함한다. 본 발명에 따르면, 상변화 메모리의 피로측정을 자동화할 수 있고, 셋/리셋 사이클에 따른 전기적, 기계적, 구조적 분석이 가능하여 피로원인의 규명과 피로영역의 2차적 분석을 용이하게 할 수 있는 효과가 있다.상변화 메모리, 칼코게나이드, 피로, Ge2Sb2Te5(GST), 원자 힘 현미경, 텅스텐 히터 팁 | - |
| dc.title | 원자 힘 현미경과 텅스텐 히터 팁을 이용한 상변화메모리의 피로 측정 시스템 및 그 제어방법 | - |
| dc.title.alternative | A Measuring System For PRAM Fatigue Using Atomic Force Microscpoe And Homemade W Heater Tip And Controlling Method Thereof | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 최시경 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김현정 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2007-0027335 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-0888469-0000 | - |
| dc.date.application | 2007-03-20 | - |
| dc.date.registration | 2009-03-05 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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