공통형 잡음 분석을 기반으로한 고전력밀도에 적합한 브리지리스 역률보상회로 토폴로지에 관한 연구

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본 논문에서는 공통형 잡음 분석을 통해 고전력밀도에 적합한 브리지리스 역률보상회로에 대해 연구한다. 이를 통해, 브리지리스 역률보상회로의 EMI 특성 악화에 가장 큰 문제가 되는 공통형 잡음을 개선을 하기 위한 방법을 분석하고, 전력밀도를 저하시키지 않으면서 EMI 특성을 개선할 수 있는 브리지리스 역률보상회로 토폴로지에 대해 연구한다. 또한, 이를 바탕으로 얻어진 회로와 동일한 전력밀도 및 EMI 특성을 가지면서 실제 산업에 적용할 수 있는 브리지리스 역률보상회로를 제안한다.
Publisher
전력전자학회
Issue Date
2016-07-07
Language
Korean
Citation

전력전자학회 2016년도 하계학술대회

URI
http://hdl.handle.net/10203/215710
Appears in Collection
EE-Conference Papers(학술회의논문)
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