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a-IGZO 산화물 투명 박막 트랜지스터의 게이트 전압에 대한 신뢰성 향상 연구 = Improvement in gate bias stress instability of a-IGZO oxide transparent thin film transistorslink

김응택; Kim, Eungtaek; et al, 한국과학기술원, 2016

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