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Microwave frequency model of wafer level package based on s-parameter measurement = S-파라미터 측정을 통한 마이크로파 영역에서의 Wafer Level Package 모델에 관한 연구link Lee, Jun-Woo; 이준우; et al, 한국과학기술원, 2001 |
온도센서가 집적된 WLP LED의 제작과 이를 통한 광 특성 보상 시스템의 구현 강인구; 김진관; 이희철, 전자공학회논문지 - SD, v.49, no.7, pp.1 - 9, 2012-07 |
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