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라미노그라피 기술을 이용한 알루미늄 용접부위 미세 결함 검출 시스템 설계 이민주; 박미란; 조규성; 조승룡, 한국비파괴검사학회 추계학술대회, 한국비파괴검사학회, 2019-10-31 |
볼 그리드 어레이형 반도체 칩 패키지의 검사 방법 조승룡; 박미란; 이호연, 2018-08-14 |
콘빔 시티에서의 산란 및 빔 강화 보정의 중요성 박미란; 김창환; 조승룡, 제 48회 한국의학물리 춘계학술대회, 한국의학물리학회, 2014-04-12 |
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