전자빔 조사를 이용한 SiO2 절연체 표면 개질 및 고성능 유기 막박 트랜지스터 제조
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 이혁무 | - |
| dc.contributor.author | 김재준 | - |
| dc.contributor.author | 조성오 | - |
| dc.date.accessioned | 2013-08-22T05:35:07Z | - |
| dc.date.available | 2013-08-22T05:35:07Z | - |
| dc.date.created | 2013-07-23 | - |
| dc.date.issued | 2010-11-04 | - |
| dc.identifier.citation | 한국방사선산업학회 2010년 학술발표대회, v., no., pp. - | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/176301 | - |
| dc.language | KOR | - |
| dc.publisher | 한국방사선산업학회 | - |
| dc.title | 전자빔 조사를 이용한 SiO2 절연체 표면 개질 및 고성능 유기 막박 트랜지스터 제조 | - |
| dc.type | Conference | - |
| dc.type.rims | CONF | - |
| dc.citation.publicationname | 한국방사선산업학회 2010년 학술발표대회 | - |
| dc.identifier.conferencecountry | South Korea | - |
| dc.contributor.localauthor | 조성오 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 이혁무 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김재준 | - |
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