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Characterization of xNiO-(1-x)Nb2O5 combinatorial library for ReRAM capacitor fabricated by multi-target sputtering system = 조합화학기법을 이용한 저항성 메모리 캐패시터용 xNiO-(1-x)Nb2O5 박막의 특성분석link Jung, Chang-Hwa; 정창화; et al, 한국과학기술원, 2006 |
Crystal Structure Analysis of Bi4-xNdxTi3O12 by Using Neutron Powder Diffraction Data 우성일; 전민구; 정창화; 김용일; 남승훈; 손정민, 2006 추계 화학공학회, 한국화학공학회, 2006-10-27 |
Development of novel resistance random access memory (ReRAM) capacitor based on new compositions, nb-doping and combinatorial chemistry = 새로운 조성, 도핑 및 조합화학에 의한 신규 산화물 저항성 메모리 개발link Jung, Chang-Hwa; 정창화; et al, 한국과학기술원, 2012 |
Improved ReRam behaviors in Ba0.4Sr0.3TiO3 layer with Nb dopant 정창화; 우성일, 가을 총회 및 학술대회, 한국화학공학회, 2010-10 |
Resistance switching behavior of BaTiO3 thin films fabricated by sputtering 우성일; 정창화, 2009 화학공학회 봄 학술대회, 한국화학공학회, 2009-04-22 |
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