DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | 주우덕 | - |
dc.contributor.author | 김영식 | - |
dc.contributor.author | 유준호 | - |
dc.contributor.author | 김승우 | - |
dc.date.accessioned | 2013-03-27T09:11:24Z | - |
dc.date.available | 2013-03-27T09:11:24Z | - |
dc.date.created | 2012-03-21 | - |
dc.date.issued | 2007-11 | - |
dc.identifier.citation | 한국정밀공학회 2007년도 추계학술대회 , v., no., pp.41 - 42 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/161140 | - |
dc.language | KOR | - |
dc.publisher | 한국정밀공학회 | - |
dc.title | 박막의 두께형상 및 굴절률 측정 | - |
dc.title.alternative | Thin-film Measurements of thickness profile and refractive index | - |
dc.type | Conference | - |
dc.type.rims | CONF | - |
dc.citation.beginningpage | 41 | - |
dc.citation.endingpage | 42 | - |
dc.citation.publicationname | 한국정밀공학회 2007년도 추계학술대회 | - |
dc.identifier.conferencecountry | South Korea | - |
dc.identifier.conferencecountry | South Korea | - |
dc.contributor.localauthor | 김승우 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 주우덕 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 김영식 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 유준호 | - |
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