복셀 메트릭스 스캐닝법에 의한 나노급 정밀도를 가지는 복화공정 개발
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 박상후 | - |
| dc.contributor.author | 임태우 | - |
| dc.contributor.author | 양동열 | - |
| dc.contributor.author | 이신욱 | - |
| dc.contributor.author | 공홍진 | - |
| dc.date.accessioned | 2013-03-18T19:59:34Z | - |
| dc.date.available | 2013-03-18T19:59:34Z | - |
| dc.date.created | 2012-02-06 | - |
| dc.date.issued | 2003 | - |
| dc.identifier.citation | 한국정밀공학회 추계학술대회, v., no., pp.424 - 427 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/151943 | - |
| dc.language | KOR | - |
| dc.publisher | 한국정밀공학회 | - |
| dc.title | 복셀 메트릭스 스캐닝법에 의한 나노급 정밀도를 가지는 복화공정 개발 | - |
| dc.type | Conference | - |
| dc.type.rims | CONF | - |
| dc.citation.beginningpage | 424 | - |
| dc.citation.endingpage | 427 | - |
| dc.citation.publicationname | 한국정밀공학회 추계학술대회 | - |
| dc.identifier.conferencecountry | South Korea | - |
| dc.identifier.conferencecountry | South Korea | - |
| dc.contributor.localauthor | 양동열 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 박상후 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 임태우 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 이신욱 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 공홍진 | - |
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