Browse "Dept. of Industrial and Systems Engineering(산업및시스템공학과)" by Subject 소량 데이터 기반 학습▼a전이 학습▼a앙상블 학습▼a반도체 제조▼a웨이퍼 빈 맵
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| Few-shot classification of wafer bin maps using transfer learning and ensemble learning = 전이 학습과 앙상블 학습을 이용한 소량 데이터 기반 웨이퍼 빈 맵 분류link Kim, Hyeonwoo; Kim, Heeyoung; et al, 한국과학기술원, 2023 |
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