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Design of accelerated life test plans and statistical inferences under competing causes of failure = 다수 고장원인이 있는 제품에 대한 가속수명시험의 설계 및 통계적 추론link Chun, Young-Rok; 전영록; et al, 한국과학기술원, 1993 |
고장원인이 여럿 있는 제품의 가속수명시험 설계 = Design of accelerated life tests for products with multiple modes of failurelink 전영록; Chun, Young-Rok; et al, 한국과학기술원, 1989 |
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