광포획된 마이크로 입자를 이용한 표면형상 측정Surface profile measurement with optically trapped micro-particles
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 주지영 | - |
| dc.contributor.author | 김준식 | - |
| dc.contributor.author | 김승우 | - |
| dc.date.accessioned | 2013-03-17T00:00:19Z | - |
| dc.date.available | 2013-03-17T00:00:19Z | - |
| dc.date.created | 2012-02-06 | - |
| dc.date.issued | 2002-02-15 | - |
| dc.identifier.citation | 한국광학회 제12회 정기총회 및 2001년도 동계학술발표회 논, v., no., pp.116 - 117 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/137540 | - |
| dc.description.abstract | 정밀 삼차원 미세 형상 측정기에서 성능의 관건은 고속, 고분해능으로 측정하는 것이다. 그러기 위해서는 공진주파수가 높아야 하고 스프링 상수가 작아야 한다. 광포획 현미경(optical trap microscope, OTM)은 광포획 된 마이크로 입자를 프로브로 사용하는 것으로 입자에 작용하는 복원력이 광에 의한 힘뿐이므로 스프링 상수가 낮다. 또한 공진주파수는 f=√k/m 으로 입자의 질량이 매우 작으므로 공진주파수도 비교적 높다. | - |
| dc.language | KOR | - |
| dc.publisher | 한국광학회 | - |
| dc.title | 광포획된 마이크로 입자를 이용한 표면형상 측정 | - |
| dc.title.alternative | Surface profile measurement with optically trapped micro-particles | - |
| dc.type | Conference | - |
| dc.type.rims | CONF | - |
| dc.citation.beginningpage | 116 | - |
| dc.citation.endingpage | 117 | - |
| dc.citation.publicationname | 한국광학회 제12회 정기총회 및 2001년도 동계학술발표회 논 | - |
| dc.identifier.conferencecountry | South Korea | - |
| dc.identifier.conferencecountry | South Korea | - |
| dc.contributor.localauthor | 김승우 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 주지영 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김준식 | - |
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- ME-Conference Papers(학술회의논문)
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