레이저 어닐링된 다결정 실리콘과 ECR N2O-플라즈마 게이트 산화막을 사용한 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 신뢰성

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Issue Date
1999
Language
KOR
Citation

통신/전자 학술대회, pp.170 - 177

URI
http://hdl.handle.net/10203/131569
Appears in Collection
RIMS Conference Papers
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