DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 윤의식 | - |
dc.date.accessioned | 2013-03-14T19:33:41Z | - |
dc.date.available | 2013-03-14T19:33:41Z | - |
dc.date.created | 2012-02-06 | - |
dc.date.issued | 1983 | - |
dc.identifier.citation | 대한전자공학회 1 9 8 3년 하계종합학술대회 논문집, v., no., pp. - | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/112441 | - |
dc.language | KOR | - |
dc.title | MOS Capacitor의 C-t 측정에 의한 Minority Carrier의 Generation Lifetime의 결정 | - |
dc.type | Conference | - |
dc.type.rims | CONF | - |
dc.citation.publicationname | 대한전자공학회 1 9 8 3년 하계종합학술대회 논문집 | - |
dc.identifier.conferencecountry | South Korea | - |
dc.identifier.conferencecountry | South Korea | - |
dc.contributor.localauthor | 윤의식 | - |
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