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Anti-buckling vertical microprobes with branch springs = 좌굴방지를 위한 가지스프링을 가진 수직형 마이크로 프로브link Kim, Jung-Yup; 김정엽; et al, 한국과학기술원, 2010 |
Probe head and card structures for high-speed wafer level testing of application processor (AP) with LPDDR interface = 엘피디디알 인터페이스를 갖는 어플리케이션 프로세서를 웨이퍼 레벨에서 고속으로 테스트하기 위한 프로브 헤드와 카드 구조link Lee, Eunjung; 이은정; et al, 한국과학기술원, 2015 |
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