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EXTRACTION OF EXTRINSIC PARARNETERS FOR GaAs MESFET BY S-PARAMETERS 조영송; 나극환; 임광호; 신철재, 한국전자파학회 논문지, v.2, no.2, pp.30 - 37, 1991-06 |
Visual Inspection Method by Pyramid Data Structure(IC핀 조사를 위한 시각 조사 방법) 김춘길; 최성진; 조동래; 김영해; 나극환, 한국통신학회논문지, v.15, no.5, pp.375 - 383, 1990-05 |
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