학위논문(박사) - 한국과학기술원 : 전기 및 전자공학과, 2011.2, [ xii, 112 p. ]
blocking oxide; high-K dielectric; flash memory; SONOS; charge trap layer; 희토류 산화물; 전하포획막; 차단산화막; 고유전체; 플래쉬 메모리
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