3D 스캐닝 장치를 이용한 채널 모델 파라미터 추정 방법 및 채널 모델링 시스템ESTIMATION METHOD FOR CHANNEL MODEL PARAMETERS USING 3D SCANNING APPARATUS AND CHANNEL MODELING SYSTEM
3D 스캐닝 장치를 이용한 채널 클러스터 모델 파라미터 추정 방법은 분석장치가 3D 스캐닝 장치가 관심 영역에 대하여 스캔한 초기 레이더 데이터를 입력받는 단계, 상기 분석장치가 상기 관심 영역의 모든 3D 각도에 대하여 반사체에 대한 직선 경로, 상기 직선 경로의 경로 이득 및 위상 정보를 포함하는 정제된 레이더 데이터를 추출하는 단계 및 상기 분석장치가 상기 정제된 레이더 데이터에서 상기 직선 경로를 기준으로 클러스터들을 구성하고, 상기 클러스터들에 대한 채널 모델 파라미터의 통계 분석을 수행하는 단계를 포함한다.
- Assignee
- 한국과학기술원
- Country
- KO (South Korea)
- Application Date
- 2021-11-09
- Application Number
- 10-2021-0153216
- Registration Date
- 2023-08-29
- Registration Number
- 10-2573600-0000
- Appears in Collection
- EE-Patent(특허)
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