이진 대칭 채널에서 고속 복호가 가능한 저밀도 패리터 검사 부호의 비트 반전 알고리즘

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Publisher
한국통신학회
Issue Date
2019-01-23
Language
Korean
Citation

2019년도 한국통신학회 동계종합학술대회

URI
http://hdl.handle.net/10203/271393
Appears in Collection
EE-Conference Papers(학술회의논문)
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