메타 표면과 플라즈몬 광 검출기가 집적화된 초 박막 원형 편광 분석기ULTRA-THIN CIRCULAR POLARIZATION ANALYZER INTEGRATED META SURFACE AND PLASMON PHOTODETECTOR

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메타 표면 및 광 검출기를 이용하여 원형 편광의 편광 방향을 분석할 수 있는 원형 편광 분석기를 제공한다. 메타 표면에 입사한 원형 편광은 표면 전자기파의 형태로 광 검출기를 향해 전파하며, 광 검출기를 사용하여 표면 전자기파에 의한 광 전류를 측정함으로써 입사한 원형 편광의 편광 방향을 분석할 수 있다.
Assignee
한국과학기술원
Country
KO (South Korea)
Issue Date
2019-07-03
Application Date
2017-08-17
Application Number
10-2017-0104223
Registration Date
2019-07-03
Registration Number
10-1998471-0000
URI
http://hdl.handle.net/10203/263824
Appears in Collection
EE-Patent(특허)
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