주파수 변조 연속파를 이용한 안테나 방사패턴 측정 시스템 및 그 동작 방법ANTENNA RADIATION PATTERN MEASUREMENT SYSTEM USING FREQUENCY MODULATED CONTINUOUS WAVE AND METHOD THEREOF

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dc.contributor.author박성욱ko
dc.contributor.author김동찬ko
dc.contributor.author박성진ko
dc.date.accessioned2019-05-15T13:34:12Z-
dc.date.available2019-05-15T13:34:12Z-
dc.date.issued2019-05-08-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/261988-
dc.description.abstract본 발명은 전자파 잔향실(Reverberation chamber) 내의 도플러 주파수 및 비트 주파수 분석을 기반으로 LOS(Line of Sight) 신호를 구분하여 첩 밴드위스(Chirp Bandwidth)에 해당하는 안테나 방사패턴(Antenna Radiation pattern)을 측정하는 시스템 및 그 동작 방법에 관한 것으로, 도플러 주파수 및 비트 주파수를 이용하여 정밀하게 LOS 신호 및 NLOS 신호를 구분하고, 첩(chirp)을 이용하여 한번의 측정으로 밴드위스 내의 모든 주파수에서 방사패턴을 측정할 수 있다.-
dc.title주파수 변조 연속파를 이용한 안테나 방사패턴 측정 시스템 및 그 동작 방법-
dc.title.alternativeANTENNA RADIATION PATTERN MEASUREMENT SYSTEM USING FREQUENCY MODULATED CONTINUOUS WAVE AND METHOD THEREOF-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor박성욱-
dc.contributor.nonIdAuthor김동찬-
dc.contributor.nonIdAuthor박성진-
dc.contributor.assignee한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2017-0060015-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-1978555-0000-
dc.date.application2017-05-15-
dc.date.registration2019-05-08-
dc.publisher.countryKO-
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EE-Patent(특허)
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