Bitfield 심볼릭 지원을 통한 Concolic 테스팅 효과 향상

Abstract

Concolic testing은 효과적인 테스트 입력을 자동으로 생성하기 때문에, 신뢰성이 중요한 임베디드 SW 분야에서 중요한 기술이다. 하지만, 기존 concolic testing 도구는 임베디드 시스템에 자주 사용되는 bitfield를 심볼릭하게 지원하지 않는 제약점이 있었다. 본 논문에서는 concolic testing 도구인 CREST에 bitfield 변수를 심볼릭하게 지원하는 기능을 추가하고, bitfield 기능을 지원하지 않는 CREST와 지원하는 CROWN을 자동차 SW에 적용하여 분기 커버리지를 비교하였다. 그 결과 CROWN이 CREST 대비 75% 정도의 분기 커버리지 향상을 달성했다.