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Nanoprobing electrical properties of topological insulators and graphene using scanning probe microscopy = 주사탐침현미경을 이용한 위상부도체 및 그래핀의 전기적 특성 연구link Hwang, Jin Heui; 황진희; Park, Jeong Young; 박정영, 한국과학기술원, 2017 | |
Nanoprobing electrical and physical properties of nanostructured materials with atomic force microscopy = 원자력 현미경을 이용한 나노구조체의 전기적, 물리적 성질 연구link Lee, Hyun Soo; 이현수; Park Jeong Young; 박정영, 한국과학기술원, 2015 | |
SPM (Scanning probe microscopy) study on carbon-based 2-dimensional materials = 탄소기반 2차원 물질의 주사탐침현미경 연구link Kwon, Sangku; 권상구; Park, Jeong Young; 박정영, 한국과학기술원, 2015 |
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