비파괴검사용 비접촉식 영상화 장치 및 방법NONCONTACT IMAGING DEVICE AND METHOD FOR NONDESTRUCTIVE TESTING
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 손훈 | ko |
| dc.contributor.author | 이현석 | ko |
| dc.contributor.author | 양진열 | ko |
| dc.date.accessioned | 2017-12-20T08:26:11Z | - |
| dc.date.available | 2017-12-20T08:26:11Z | - |
| dc.date.issued | 2013-06-27 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/231855 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은 비파괴검사용 비접촉식 영상화 장치 및 방법에 관한 것으로, 구조물에 펄스 레이저를 조사하여 구조물에 유도파를 가진하는 생성부와, 구조물에서 생성된 유도파를 비접촉식으로 계측하는 계측부 및 계측부에서 계측된 데이터를 영상화하여 손상정보를 추출하고 자동으로 판별하는 영상처리부를 포함한다.본 발명에 따른 비파괴검사용 비접촉식 영상화 장치 및 방법은 센서를 부착하거나 케이블을 사용하지 않고 비접촉식으로 구조물에 대한 진단이 가능하며, 높은 영상 해상도를 통하여 구조물의 손상을 신뢰성 있게 검출할 수 있다. | - |
| dc.title | 비파괴검사용 비접촉식 영상화 장치 및 방법 | - |
| dc.title.alternative | NONCONTACT IMAGING DEVICE AND METHOD FOR NONDESTRUCTIVE TESTING | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 손훈 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 이현석 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 양진열 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2010-0112990 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1281582-0000 | - |
| dc.date.application | 2010-11-12 | - |
| dc.date.registration | 2013-06-27 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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