스위치 내부저항 보상을 이용한 아이씨티 및 이를 이용한측정 방법ICT:(in-circuit tester) using compensation of internalresistance of switches for it and measurement methodsthereof

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dc.contributor.author김병국ko
dc.date.accessioned2017-12-18T04:36:40Z-
dc.date.available2017-12-18T04:36:40Z-
dc.date.issued2008-03-13-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/228012-
dc.description.abstract본 발명은 아이씨티 및 아이씨티를 이용한 측정 방법이다. 본 발명에 의한 아이씨티는, 측정하고자 측정 소자를 선택하는 스위치매트릭스부; 측정 소자의 일단에 연결되고 각각의 스위치 소자를 갖는 제 1 신호선과 제 2 신호선 및, 측정 소자의 타단에 연결되고 스위치 소자를 갖는 제 3 신호선을 포함함으로써 스위치매트릭스부와 연결되어 직류의 전류 또는 전압을 측정하는 측정부; 스위치매트릭스부의 선별 구동 및 상기 측정부의 구동, 측정, 및 계산 등을 제어하는 제어부; 및 상기 제어부의 제어 순서 및 측정 결과를 저장하는 메모리부를 구비하며, 측정부는 제 1 신호선을 통하여 직류 또는 교류의 정전압원 또는 정전류원을 인가함으로써, 제 1 신호선, 측정 소자, 및 제 3 신호선을 따라 흐르는 전류를 측정하고, 측정 소자와 제 3 신호선을 포함하는 양단의 전압을 전압을 제 2 신호선 및 제 3 신호선을 통하여 측정하며, 제어부는 측정된 결과를 참조하여 측정 소자의 저항값 및 스위치 소자의 저항값 계산을 위해 연산을 수행하는 것을 특징으로 한다.-
dc.title스위치 내부저항 보상을 이용한 아이씨티 및 이를 이용한측정 방법-
dc.title.alternativeICT:(in-circuit tester) using compensation of internalresistance of switches for it and measurement methodsthereof-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor김병국-
dc.contributor.assignee한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2006-0088500-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-0815244-0000-
dc.date.application2006-09-13-
dc.date.registration2008-03-13-
dc.publisher.countryKO-
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EE-Patent(특허)
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